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　　樣品檢測利用掃描電鏡觀測納米SiO2包覆后羰基鐵粉的微觀形貌，測試電壓為5.0kV，放大倍數為15.0×103倍，測試結果。利用掃描電鏡附帶的能譜儀對其進行能譜分析。可以看出，羰基鐵粉外表光滑，主要成球狀，粉體顆粒表面的粗糙度明顯增加，說明羰基鐵粉表面包覆了納米級微小顆粒。能譜分析結果也顯示，羰基鐵粉顆粒表面增添了硅元素。根據正硅酸乙酯和氨水的化學反應機理可知，這些硅元素來自反應產物二氧化硅。綜上可知，羰基鐵粉顆粒表面成功包覆了一層納米SiO2薄膜。分別稱取適量的羰基鐵粉和納米SiO2包覆的羰基鐵粉，按規定比例與石蠟混合，攪拌分散均勻后，用模具壓制成厚2mm的同軸環。使用HP-8722ES分析儀用同軸法測試同軸環樣品的電磁參數。

　　納米SiO2包覆對羰基鐵粉電磁參數的影響通常吸波材料的電磁性能用介電常數ε和磁導率μ表征，它們決定著介質中電磁能量的積蓄和消耗。根據電介質和磁介質在交變電磁場中的極化、磁化機理可知，ε′和μ′與電磁場的儲能密度有關，分別表征材料在電磁場中被極化和磁化時存儲能量的能力；ε″和μ″則與材料在單位時間內損耗的能量有關，分別表征材料在電磁場中被極化和磁化時損耗能量的度量。根據納米SiO2包覆前后羰基鐵粉電磁參數的測量結果，對比其復介電常數和復磁導率。