分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點。 實施半導體分立器件特性參數分析的佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發生器、 波形發生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。數字源表之半導體特性測試儀IV曲線掃描儀認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六
產品功能：
①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。
②四象限工作，可作為源或負載
普賽斯數字源表應用優勢：
1、多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高300V，電流低至30pA；
2、實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發軟件。
普賽斯數字源表技術參數
Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
電流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
過量程： 105%量程，源和測量；
穩定負載電容：<22nF；
寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
線纜保護電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80uV；
大采樣速率：1000 S/s；
觸發：支持IO觸發輸入及輸出，觸發極性可配置；
輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太網；
電源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作環境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長；
普賽斯數字源表應用：
分立器件特性測試：電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管
BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態測試系統；
電流傳感器：動靜態參數測試系統；
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